x熒光光譜儀的應用及優(yōu)點介紹
x熒光分析已廣泛應用于材料、冶金、地質、生物醫(yī)學、環(huán)境監(jiān)測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業(yè)生產等諸多領域，是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術，可為相關生產企業(yè)提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。
X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。
近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得也廣泛。
優(yōu)點概述
1) 分析時間短。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2) 適用范圍廣。X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
3) 非破壞分析，重現性好。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
4) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
5) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
6) 分析精密度高。
